Attività di SCIP Italia - 2° incontro

Di seguito è riportato il tema del secondo incontro nazionale di SCIP Italia. Sono disponibili anche il programma completo dell'associazione per il 2009 ed il modulo di adesione alla società, che dà diritto tra l'altro alla partecipazione dell'evento descritto. Ulteriori informazioni su www.scip.org

“CI per l’innovazione: applicazione dell’analisi funzionale”
Metodi di intelligenza tecnologica basati su nuovi strumenti di analisi funzionale

presentazione e discussione condotta dal
Professor Andrea Bonaccorsi
Università di Pisa

21 maggio 2009
(ore15.30-17.30)

presso Strategie & Innovazione, Via Pergolesi 24 Milano
(5 minuti dalla stazione Centrale, fermata metro linea MM2 Caiazzo)

 

L'esperienza mostra alcune difficoltà nell'intelligenza tecnologica basata su ricerche brevettuali di tipo testuale. In primo luogo, la ricerca per parole chiave mostra limiti dovuti al fatto che le parole utilizzate per descrivere le tecnologie fanno riferimento alle caratteristiche tecniche delle soluzioni inventive, invece che alla natura del problema che risolvono. Una seconda difficoltà dipende dalle strategie che gli uffici legali perseguono per aumentare la differenza tra i propri brevetti e quelli dei concorrenti, attraverso una sistematica modifica delle parole utilizzate.
Il metodo proposto si basa sulla costruzione di un ampio lemmatizzatore (oltre 4000 lemmi) in grado di descrivere completamente le funzioni svolte dagli artefatti, attraverso scomposizioni dettagliate. Il sistema consente di costruire in breve tempo mappe funzionali delle invenzioni, indipendentemente dal linguaggio tecnico utilizzato dagli estensori del brevetto. A partire dalle mappe funzionali sono stati sviluppato algoritmi di distanza, in grado di restituire la similarità di brevetti appartenenti anche a classi diverse. Il metodo consente quindi di mappare le tecnologie concorrenti in modo automatico, superando i limiti degli approcci basati sulle parole chiave.